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      CBTZ自动对位探针台能对晶片实现自动对位测试,

      操作简单,快捷,测试精度高,具有MAP显示功能。

      与测试仪连接后,能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试

      名称:CBTZ半自动探针台
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      CBTZ半自动探针台

      主要技术参数

      可测片型:3 寸、 4寸、5寸,6寸、8寸

      测试硅片单元尺寸:20—200 mil

      定位精度:≤ ±0.01mm/110mm

      自动对准精度:±0.01mm

      误测率:≤ 1 ‰

      全自动对位时间:≤ 15 s

      测试速度 45 mil   5.0 pcs/s

      50 mil   4.6 pcs/s

      87 mil   4.2 pcs/s

      步进分辨率:0.001

      Z向行程:0~5mm 可调

      承片台转角θ调节范围:±20o


      CBTZ-3100Z型自动对位探针台能对晶片实现自动对位测试,操作简单,快捷,测试精度高,具有MAP显示功能。它与测试仪连接后,能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试 。

      CBTZ半自动探针台.jpg


      操作方式

      CBTZ型自动对位探针台

      提供了清晰直观的触屏操作页面,

      手触点击即可完成对晶片的自动对位测试。

      除此之外还提供了更加简洁 

      便的小键盘操作方式,操作者可依据

      个人偏好和习惯选择任意种操作 

      CBTZ半自动探针台软件界面.jpg

      机器软件的操作界面

      CBTZ半自动探针台小功能键盘.jpg

      功能小键盘

      机器功能

      具有自动扫描对位功能,对位精度
      高、速速快,Windows7界面,动态map
      图显示测试过程。

      具有圆形测试,范围重测,探边

      测试,范围打点,回收测试,矩形
      测试和脱机打点多种测试功能。

      CBTZ半自动探针台机器功能.jpgCBTZ半自动探针台测试方法.jpg

      具有X、Y、Z三轴运动结构,操作软

      件能对垂直度、平面度进行精度补偿,保
      证机器的控制精度和工作的稳定性。
      具有实时打点、脱机打点和滞
      后打点功能。新型打点器,使用时
      间长达3天,不滴墨,省去60%的操作时间。
      CBTZ半自动探针台垂直度参数设置.jpgCBTZ半自动探针台打点设置.jpg

      具有Z轴行程分段运动功能,其

      分为基本高度、接触高度、接触缓冲、

      过冲高度和折回高度,并且具有探边

      功能,防止测试过程中探针对芯片的
      划伤和探针与芯片的接触不良。







      测试针痕比例图片(反光白点为针痕)

      CBTZ半自动探针台高度参数设置.jpg

      CBTZ半自动探针台芯粒数量设置.jpg

      多芯粒                               单芯粒


      应用案例:

      珠海多创科技CBTZ半自动探针台.png西安鹏泰航空动力技术CBTZ半自动探针台.png