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              Hisilicon半导体光电检测设备隔振方案

              作者:至一科技 日期:2021-01-02 点击:653
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              Hisilicon半导体光电检测设备隔振方案

              SOTOMD300-M被动隔振系统


              背景:半导体光电测试应用

              使用单位:深圳市海思半导体有限公司

              地点:广东省深圳市龙岗区坂田华为基地F区

              设备:Hisilicon半导体光电检测设备

              隔振方案:SOTOMD300-M


              半导体隔振系统.jpgSOTOMD被动隔振系统.jpg
              海思半导体设备SOTOMD隔振台.jpg
              Hisilicon半导体光电检测设备SOTOMD300-M被动隔振系统安装应用图


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